Dedicated Microscope Controller with xT Software v.17.x： 专用显微镜控制器，配备xT软件v.17. Support Computer with Windows 10： 搭载Windows 10操作系统的支持计算机，用于运行显微镜控制软件和其他相关应用。 2 x 24’’ Widescreen LCD Monitor： 两台24英寸宽屏液晶显示器，提供清晰的图像显示，便于用户观察和分析。 Elstar Electron Column with UC+ Technology： Elstar电子枪列，配备UC+技术，提供稳定的电子束流，保证高分辨率的图像质量。 Tomahawk HT Ion Column with Fast Beam Blanker： Tomahawk HT离子枪列，配备快速束流阻挡器，用于离子束成像和样品处理。 150 x 150 mm Eucentric Piezo Stage： 150 x 150毫米的尤中心压电式样品台，提供精确的样品定位和移动控制。 Height-adjustable Multi-purpose Specimen Holder： 高度可调的多功能样品架，适应不同形状和大小的样品。 Electron Beam Deceleration： 电子束减速功能，用于调整电子束的能量，以适应不同的分析需求。 In-lens Detector TLD - with SE and BSED Modes： 镜内探测器TLD，支持二次电子（SE）和背散射电子（BSED）两种工作模式，提供丰富的样品信息。 Secondary Electron Detector (SED)： 二次电子探测器，用于检测和分析样品表面产生的二次电子信号。 In-column Detectors: ICD and Mirror Detector： 镜列内探测器，包括ICD和Mirror Detector，用于捕获和分析不同种类的信号。 Beam Current Measurement： 束流测量功能，用于实时监测和调整电子束或离子束的电流强度。

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