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聚光镜球差校正透射电镜 美国FEI公司
设备型号:Titan Cubed Themis G2 300
厂       家:美国FEI公司
所属地区:天津
  • 技术参数:

    1. 具备聚光镜球差校正器。2、EELS能量分辨率:优于0.35 eV (300 kV)。3、透射电子显微(TEM)模式的点分辨率:优于0.22 nm (300 kV)。4、HAADF分辨率:300 kV时0.06 nm,60 kV时优于0.136 nm。5、具备Super X能谱仪系统。 6、极靴间距5.4 mm。 7、具备Enfinium ER Model 977系统一套,拥有Dual EELS功能、EDS/EELS同时高速采谱功能。 8、具备分割式STEM探头。

    功能特色:

    1. TEM模式能够对无机材料结构进行亚埃尺度(<0.1 nm)的表征和分析;2.能利用高角度环形暗场(HAADF)、环形明场(ABF)、能谱(EDS)、电子能量损失谱(EELS)等技术直接观察无机材料中轻、重原子的位置和排;3. 可对无机材料进行形貌和成分的三维重构;4. 可对无机材料进行差分相位衬度(DPC)分析;5. 可表征无机材料中的原子间电场分布;6.可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射、高分辨结构等分析。

    样品要求:

    1.3mm直径铜环承载样品,薄区在50~100 nm以内为佳;2. 磁性要求要特殊指明,严禁磁性样品;3. 制样方法一般选择FIB切样或者离子减 薄样品,若为金属的化多选择电解双喷制备样品;

    应用领域:

    材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域

    服务范围:

    1.纳米材料形貌分析;2. 原位分析;3.STEM测试;4.

    收费标准:

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米格实验室
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