部分约3346个搜索结果
分类:
- 全部
- 材料检测
- 微纳加工
- 封装测试
- 可靠性试验
- 失效分析
- 生物检测
- 形貌分析
- 组织结构
- 成分分析
- 力学性能
- 物理性能
- 光谱分析
- 样品制备
- 光刻制版
- 薄膜沉积
- 光刻工艺
- 刻蚀工艺
- 划片解理
- 离子注入
- 产品供应
- 激光加工
- 器件形貌
- 台阶测量
- 薄膜测试
- 电学参数
- 环境试验
- 力学试验
- 电学试验
- 失效分析
- 认证校准
- 精密加工
- 共享仪器
展开


切换城市
-
名 称: 透射电子显微镜型 号: Tecnai G2 20 S-TWIN
-
名 称: 聚光镜球差校正透射电镜型 号: Titan Cubed Themis G2 300
-
名 称: 高分辨场发射透射电镜型 号: Talos F200X
-
名 称: 聚焦离子束-电子束双束设备型 号: Helios NanoLab 460HP
-
名 称: 超高分辨场发射扫描电镜型 号: Verios 460L
-
名 称: 透射电镜型 号: Tecnai G2 Spirit TWIN
-
名 称: 环境场发射扫描电镜型 号: FWI Quanta FEG 250
-
名 称: 精密离子减薄仪型 号: PIPS II 695
-
名 称: 集成电路测试系统型 号: V9300
自助下单
MORE
-
电子束曝光工艺
-
光刻版加工
-
电子束蒸发镀膜
-
紫外光刻(SUSS MA6)
-
磁控溅射镀膜工艺
-
ICP干法刻蚀
-
等离子体增强原子层ALD薄膜沉积系统
-
光谱椭偏仪
-
高精度三坐标测量机(FUTURE 系列)
-
功率器件DataSheet测试服务
-
IC线路修改(FIB)
-
EDA 407 管壳内部水汽检测仪
-
X射线透射
-
SAT超声波扫描显微镜
-
EMMI红外热成像显微镜
-
IC封装开盖
-
核磁共振波谱(NMR)
-
X射线三维成像(3D-CT)
-
磁控溅射
-
电子探针(EPMA)
-
磁学测量系统(VSM)
-
X射线小角散射
-
紫外/可见/近红外分光光度计
-
电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)
-
热重分析(TGA)
-
二次离子质谱(SIMS)
-
电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)
-
拉曼光谱(Raman)
-
透射电子显微镜(TEM)
-
扫描电子显微镜(SEM)
-
DSC热分析法
-
傅里叶变换红外光谱分析仪(FTIR)
-
X射线光电子能谱(XPS)
-
X射线荧光光谱(XRF)
-
X射线衍射(XRD)
-
原子力显微镜(AFM)
-
全自动比表面积与孔隙分析仪(BET)