实验室仪器

加入我们

{{ reversedMessage() }}站

北京

当前选择：北京

关于我们提交需求加入平台

关注我们

绑定微信时刻了解进展

当前位置：首页 > 入驻仪器

部分约6454个搜索结果

默认顺序

切换城市

名称: 透射电子显微镜

型号: Tecnai G2 20 S-TWIN
名称: 聚光镜球差校正透射电镜

型号: Titan Cubed Themis G2 300
名称: 高分辨场发射透射电镜

型号: Talos F200X
名称: 聚焦离子束-电子束双束设备

型号: Helios NanoLab 460HP
名称: 超高分辨场发射扫描电镜

型号: Verios 460L
名称: 透射电镜

型号: Tecnai G2 Spirit TWIN
名称: 环境场发射扫描电镜

型号: FWI Quanta FEG 250
名称: 精密离子减薄仪

型号: PIPS II 695
名称: 集成电路测试系统

型号: V9300
名称: 集成电路测试系统

型号: HP82000
名称: 全自动探针台

型号: UF200
名称: 全自动探针台

型号: UF200R
名称: 高低温冲击试验箱

型号: TP04390A
名称: 高低温实验箱

型号: VTM7004
名称: 高低温实验箱

型号: VTL7006
名称: 半导体参数仪

型号: 4200-SCS
名称: 高低温半自动探针台

型号: PA300IS
名称: 手动探针台

型号: PW-800
名称: 半导体功率器件动态测试系统

型号: ITC-57300
名称: 半导体功率器件静态测试系统

型号: Tesec-3620-TT
名称: 半导体功率器件热阻测试系统

型号: Tesec-9424 KT
名称: 稳态热阻测试系统

型号: PhaseII
名称: 半导体功率器件雪崩能量测试系统

型号: Tesec-3702
名称: 半导体功率器件栅电荷测试系统

型号: ITC-59100
名称: 大功率半导体管特性图示仪

型号: XJ4832
名称: 高压大电流图示仪

型号: CT-3200
名称: 8寸半自动测试探针台

型号: Teala
名称: 小探针台

型号: PT-301
名称: LCR测试系统，半导体测试系统，

型号: HP-4061A
名称: 安捷伦精准LCR表

型号: 4285A
名称: 超低温温箱

型号: GW-DW50
名称: 可靠性综合测试系统

型号: 吴
名称: 冷热冲击快速温变综合实验箱

型号: ETST-080-65-AW
名称: 液体式冷热冲击试验机

型号: ETST-021-65L
名称: 冷热冲击实验箱

型号: TSD-100
名称: 低温冰柜

型号: MDF-90
名称: 烘箱2台

型号: CS101-3E
名称: 高温试验箱

型号: SEG-020H
名称: 高温试验箱

型号: SEG-021
名称: 高温反偏试验系统

型号: BTR-E600
名称: 高温动态老化系统

型号: BTI-B3000AT；BTI-B3000S
名称: 大功率晶体管老化系统

型号: BTW-E361
名称: 功率循环试验系统

型号: 5230
名称: 可程式恒温恒湿试验机

型号: ETH-408-20-CP-SD
名称: 调温调湿箱

型号: HC-302K
名称: 氮质谱检漏仪

型号:
名称: 氮气氟油加压检漏装置

型号: HF-4
名称: 重氟油加热仪

型号: G-253A
名称: 复合式回圈腐蚀盐雾试验箱

型号: ECST-108
名称: 机械冲击台

型号: CL-100
名称: 扫频震动台

型号: DS1410

更多设备可通过关键字检索

自助下单