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名 称: 透射电子显微镜型 号: Tecnai G2 20 S-TWIN
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名 称: 聚光镜球差校正透射电镜型 号: Titan Cubed Themis G2 300
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名 称: 高分辨场发射透射电镜型 号: Talos F200X
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名 称: 聚焦离子束-电子束双束设备型 号: Helios NanoLab 460HP
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名 称: 超高分辨场发射扫描电镜型 号: Verios 460L
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名 称: 透射电镜型 号: Tecnai G2 Spirit TWIN
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名 称: 环境场发射扫描电镜型 号: FWI Quanta FEG 250
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名 称: 精密离子减薄仪型 号: PIPS II 695
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名 称: 集成电路测试系统型 号: V9300
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名 称: 集成电路测试系统型 号: HP82000
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名 称: 全自动探针台型 号: UF200
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名 称: 全自动探针台型 号: UF200R
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名 称: 高低温冲击试验箱型 号: TP04390A
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名 称: 高低温实验箱型 号: VTM7004
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名 称: 高低温实验箱型 号: VTL7006
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名 称: 半导体参数仪型 号: 4200-SCS
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名 称: 高低温半自动探针台型 号: PA300IS
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名 称: 手动探针台型 号: PW-800
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名 称: 半导体功率器件动态测试系统型 号: ITC-57300
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名 称: 半导体功率器件静态测试系统型 号: Tesec-3620-TT
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名 称: 半导体功率器件热阻测试系统型 号: Tesec-9424 KT
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名 称: 稳态热阻测试系统型 号: PhaseII
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名 称: 半导体功率器件雪崩能量测试系统型 号: Tesec-3702
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名 称: 半导体功率器件栅电荷测试系统型 号: ITC-59100
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名 称: 大功率半导体管特性图示仪型 号: XJ4832
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名 称: 高压大电流图示仪型 号: CT-3200
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名 称: 8寸半自动测试探针台型 号: Teala
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名 称: 小探针台型 号: PT-301
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名 称: LCR测试系统，半导体测试系统，型 号: HP-4061A
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名 称: 安捷伦精准LCR表型 号: 4285A
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名 称: 超低温温箱型 号: GW-DW50
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名 称: 可靠性综合测试系统型 号: 吴
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名 称: 冷热冲击快速温变综合实验箱型 号: ETST-080-65-AW
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名 称: 液体式冷热冲击试验机型 号: ETST-021-65L
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名 称: 冷热冲击实验箱型 号: TSD-100
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名 称: 低温冰柜型 号: MDF-90
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名 称: 烘箱2台型 号: CS101-3E
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名 称: 高温试验箱型 号: SEG-020H
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名 称: 高温试验箱型 号: SEG-021
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名 称: 高温反偏试验系统型 号: BTR-E600
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名 称: 高温动态老化系统型 号: BTI-B3000AT；BTI-B3000S
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名 称: 大功率晶体管老化系统型 号: BTW-E361
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名 称: 功率循环试验系统型 号: 5230
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名 称: 可程式恒温恒湿试验机型 号: ETH-408-20-CP-SD
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名 称: 调温调湿箱型 号: HC-302K
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名 称: 氮质谱检漏仪型 号:
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名 称: 氮气氟油加压检漏装置型 号: HF-4
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名 称: 重氟油加热仪型 号: G-253A
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名 称: 复合式回圈腐蚀盐雾试验箱型 号: ECST-108
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名 称: 机械冲击台型 号: CL-100
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名 称: 扫频震动台型 号: DS1410
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