共约125个搜索结果
分类:
- 形貌分析
- 电镜技术
- 成分分析
- 物理性能
- 力学性能
- 微纳加工
- 逆向工程
- 宽禁带半导体
- 阻燃检测
- 半导体器件仿真与分析
展开


切换城市
-
名称: 核磁共振波谱法(NMR)测试服务价格: ¥700/小时周期: 5个工作日
-
名称: 离子束IBE刻蚀技术价格: ¥400/h周期: 5个工作日
-
名称: 深紫外发光光谱(PL)测试服务价格: ¥1000/小时周期: 2个工作日
-
名称: 高温原位力学激光共聚焦测试价格: ¥1000/小时周期: 5个工作日
-
名称: 原位拉伸扫描电镜服务价格: ¥800/小时周期: 5个工作日
-
名称: 晶圆电镀和薄膜电路定制服务价格: ¥600起/样周期: 5个工作日
-
名称: 磁控溅射加工服务价格: ¥800/小时周期: 5个工作日
-
名称: LED芯片及产品检测服务价格: ¥500/小时周期: 7个工作日
-
名称: 半导体外延片检测服务价格: ¥500/小时周期: 2个工作日
推荐仪器
-
透射电子显微镜
-
聚光镜球差校正透射电镜
-
接触式轮廓仪
-
傅立叶变换红外光谱仪
-
同步热分析仪TGA/DSC
-
透射电子显微镜
-
X光电子能谱仪
-
岛津电子探针
-
电子探针(EPMA)
-
铁电分析仪
-
DMAQ800动态热机械分析仪
-
扫描电子显微镜附加X射线能谱仪
-
盐雾腐蚀试验箱
-
Bruker D8 Discover 高功率转靶 X 射线衍射仪
-
Bruker D8 Discover 高分辨 X 射线衍射仪
-
Bruker D8 VENTURE 微焦斑转靶单晶 X 射线衍射仪
-
原子吸收分光光度计
-
DMA
-
聚焦离子束-电子束双束系统FIB Scios DualBeam
-
扫描电子显微镜SEM
-
热重/红外联用TG-IR
-
全自动比表面和孔隙度分析仪
-
高效液相色谱仪HPLC
-
元素分析仪
-
紫外可见分光光度计/漫反射光谱 UV-Vis DRS
-
双道原子荧光光度计
-
SEM-FIB-Raman-TOF-SIMS-EDS-EBSD-CL原位分析平台
-
扫描电镜原位加热台 SEM
-
真空冷镶嵌仪
-
FIB 双束电子显微镜
-
聚焦离子束-电子束双束系统FIB-SEM FEI
-
傅里叶变换红外光谱仪