1 I-V曲线测量功能2 测试温度：77 K、300 K3 测试最大样品尺寸：25 mm × 25 mm4 迁移率测量范围：10-3- 106 cm2/Vs5 载流子浓度测量范围：8×102 - 8×1023 cm-36 兼容Ge,Si,GaAs,InP等III-V族化合物外延材料

用于测量半导体材料的掺杂类型、载流子浓度和迁移率等重要电学参数

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