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玻璃-石英器件内部残余应力的快速测试系统
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价 格:面议/面议
本应力测试系统结构简单,虽然仍基于光弹性原理,但在应力信息处理和提取方式上不同于传统的光弹性方法
服务描述

本应力测试系统结构简单,虽然仍基于光弹性原理,但在应力信息处理和提取方式上不同于传统的光弹性方法,主要体现在以下几个方面:

01、高效性

本系统采用像素偏振相机记录光弹图像,实现了动态相移,可实时显示定量测试结果(应力双折射场和主应力方向场)。可用于器件生产过程中的在线测量。

 

02、便利性

只需把试件放在测试平台上,不需要转动试件和任何光学元件,即可通过软件在十秒内获取试件各应力分量的信息(市面上唯一能做到的在售设备)。

 

03、高灵敏度

比起传统的光弹条纹场,本系统的测试结果对应力的变化更灵敏(至少高一倍)。 

 

04、更好的客观性

在相同的相机参数和软件参数设置下,不会出现传统测试中因人而异的测试结果。

 

05、更完善的软件操作

除了试件识别环节,其它所有操作都有经过优化的缺省值,用户直接点击“下一步”即可;获得各应力分量场后,用户还可以查看任一横、纵截面上的应力分布曲线。 

 

06、主要技术指标

测试平台尺寸范围: 

130mm×130mm —1500mm×1500mm。 

双折射量程: 

基本型: 160nm;   增强型:4400nm。

分辨率与精度(以 0.8mm 厚的钙钠玻璃为例): 

应力分辨率:0.2MPa, 应力测试精度:1.0MPa。 双折射分辨率:0.1nm,精度:1.0nm。

 

07、系统配置 

主测试系统一套:包括光学平台、手动升降立柱、相机台(含定焦和 3X 变焦镜头各 1 个); 

高配电脑一台(含软件一套)。 

 

08、应用领域 

透明的玻璃/石英器件、注塑器件、手机膜、SiC 晶圆等试 件内部残余应力的测试。 

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应力测试系统

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手机膜的应力双折射测试结果(nm) 

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SiC晶圆的应力双折射测试结果(nm) 

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大块石英板残余应力的现场测试