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光电显示

光电显示技术针对于光电显示行业客户,米格实验室可以提供整套的技术分析服务方案, 建立失效分析的系统化流程和规范与 针对光电显示产品的质量控制与失效分析方案。

主要是涉及 膜层分析:粗糙度、透光率、电导率、载流子迁移率、附着力、水汽透过率等。 芯片截面:芯片解理、尺寸测量、截面形貌、各层成分、焊接情况。无损检测 X-ray检测、CT检测、超声波扫描(C-SAM)。PCB/PCBA:金相切片、电气性能、热性能、机械与物理性能。失效分析:光衰、暗亮、死灯、漏电、散热不良、光学性能不佳等。

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透射电镜TEM/STEM
1000
球差矫正透射电镜 ACTEM
3500
晶圆级PL/深紫外发光光谱(PL)/CL测试服务
400
白光干涉三维轮廓仪
900/h 或 300/区域
同步热分析仪TG-DTA-DSC
面议
聚焦离子束-电子束双束电镜 FIB-SEM
1000
热重—质谱—红外联用系统
面议
热重TG/TGA
300
介电常数测试
面议
二次离子质谱 D-SIMS
2000-4500
俄歇电子能谱仪 AES
2500
X射线光电子能谱XPS/原位变温XPS/原位辐照XPS/微区XPS
400
低温HERA-DLTS高能分辨率深能级瞬态谱(DLTS)
3500
飞行时间-二次离子质谱 TOF-SIMS
表面2500
X射线衍射 XRD
10
霍尔测试
常温200/样
M-T曲线/MH曲线/磁滞回线
商议
AFM支持大尺寸
600
红外光谱FTIR
100
金相显微镜
150
紫外-可见光-近红外分光光度计UV-VIS-NIR
200
四探针测试仪
150
振动样品磁强计(VSM)
面议
铁电性能测试
面议
差示扫描量热仪(DSC)
面议
聚焦离子束-电子束双束电镜 FIB-SEM
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热重—质谱—红外联用系统
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X射线光电子能谱XPS/原位变温XPS/原位辐照XPS/微区XPS
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球差矫正透射电镜 ACTEM
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白光干涉三维轮廓仪
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商议
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