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晶圆检测

米格实验室晶圆检测专区专门针对8寸以下或12寸晶圆部分项目检测包含了,几何尺寸、晶向、宏观缺陷、平面度、缺陷、粗糙度、晶型、电阻率、结晶质量、晶圆表面金属残留、载流子浓度、外延层厚度等项目测试,均是整片测试。

1、几何尺寸——直径、厚度、主定位边尺寸等
2、晶向——定位边取向、晶面取向、角度偏离
3、宏观缺陷——裂纹、六方空洞、多型、崩边等
4、平面度——翘曲度、弯曲度、总厚度变化、局部厚度偏差等
5、缺陷——BSF、Carrot、Downfall、Growth、Pit 、 Primary 、 SSF 、 Step、bunching、Triangle、BPD、TED、TSD、MPD等
6、粗糙度/晶型
7、电阻率——低阻、高阻
8、结晶质量
9、晶圆表面金属残留——TXRF、VPD ICPMS
10、载流子浓度、外延层厚

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全反射X射线荧光光谱分析TXRF
3500/3个-5500/5个
晶圆薄膜应力/翘曲测试
750
X射线衍射 XRD
10
AFM支持大尺寸
600
晶圆平面度分析TTV、TIR、LTV、BOW、WARP等
面议
SiC单晶片与外延片缺陷分析
面议
高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪Raman
面议
高阻测试仪
面议
低阻测试
面议
晶圆表面沾污分析-VPD ICPMS
面议
CV汞探针测试/汞CV
面议
红外光谱FTIR
100
GD-MS/辉光放电质谱/GDMS
2000/全元素
二谐波检测技术
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