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聚焦离子束fib 双束显微镜 FEI
设备型号:Strata 400S
厂       家:FEI
所属地区:重庆
  • 技术参数:

    加速电压5kV-30kV,放大率:300×~500,000×;分辨率2nm;配备二次电子探头(SED),背散射电子探头(BSD),扫描透射电子探头(STEM),纳米机械手(OmniProbe),气相沉积系统(GIS)。 (离子光学系统)分辨率:10nm ; (电子光学系统)分辨率:1nm; (离子光学系统)发射源:镓液态金属离子源; 气体源:C 、Pt; 机械手:有机械手 最大样品尺寸:2cm*2cm*5mm 设备附件:STEM 电子束产生模式:场发射 相关软件:Autoslice

    功能特色:

    有 Pt 和 C 两种源

    样品要求:

    最大样品尺寸:2cm*2cm*5mm

    应用领域:

    服务范围:

    用于材料微纳结构的样品加工观察与制备。

    收费标准:

    面议

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