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场发射扫描电子显微镜8及能谱 日本JEOL德国OXFORD
设备型号:JSM 7001FXFlash5010
厂       家:日本JEOL德国OXFORD
所属地区:北京
  • 技术参数:

    分辨力1.2 nm,无漏磁设计,全对中样品台,用于各种材料微观形貌观察。同时配备能谱仪附件,可做微区元素分析

    功能特色:

    样品要求:

    1.导电性好2.高度不超过1cm

    应用领域:

    服务范围:

    收费标准:

    面议

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migelab@labideas.cn
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