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Bruker D8 Discover 高分辨 X 射线衍射仪 Bruker
设备型号:Bruker D8 Discover
厂       家:Bruker
所属地区:上海
  • 技术参数:

    X 射线发生器:Cu 靶,功率 3kW,陶瓷光管 扫描方式:θ-θ 测角仪 探测器:LynxEye 阵列探测器、NaI 闪烁计数器 光学附件:Gobel 镜、Ge(022)分析晶体 高精度五轴全自动尤拉环: CHI 圆 -11°-- 98°;PHI 圆,360 度 ;X 轴平移, 80mm ;Y 轴平移, 80mm;Z 轴平移, 2mm 高温附件:RT-900℃

    功能特色:

    1、薄膜掠入射分析(GID):精确分析多层膜中材料的组成、次序、取向等; 2、薄膜反射分析(XRR):针对多晶、单晶多层薄膜厚度、密度、粗燥度进行精确分析; 3、高分辨衍射(HRXRD):针对高质量的外延薄膜、单晶材料,开展摇摆曲线,倒易空间 mapping 分析。 4、可进行单晶外延膜等材料的退火研究/高温下的高分辨 X 射线衍射表征。

    样品要求:

    应用领域:

    服务范围:

    1、薄膜掠入射分析(GID):精确分析多层膜中材料的组成、次序、取向等; 2、薄膜反射分析(XRR):针对多晶、单晶多层薄膜厚度、密度、粗燥度进行精确分析; 3、高分辨衍射(HRXRD):针对高质量的外延薄膜、单晶材料,开展摇摆曲线,倒易空间 mapping 分析。 4、可进行单晶外延膜等材料的退火研究/高温下的高分辨 X 射线衍射表征。

    收费标准:

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