仪器的性能参数：温度范围0℃～200℃，老化专用电源1000V/0.5A，1500V/0.3A，300V/4.0A,600V/1.0A，1500V/0.5A，5500V/0.1A；

该设备可对各种封装形式二极管，三极管，场效应管和可控硅等半导体分立器件进行高温反偏试验和功率老炼试验，主要用在筛选试验和质量一致性检验的 B 组，C 组检验。

集成电路；电子器件；

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